雷射盲孔檢測機

產品型號：LV2-2824-50-M, LV-3226-50-M

攤位號碼：N-1311

■可應用多種雷射製程，包括Large Window、Conformal、DLD與Flip Chip ■專門為盲孔缺失所開發的檢查與量測系統，最適合應用於檢測雷射盲孔的孔徑、孔位及細微殘膠 ■獨創的one-touch極簡操作模式，簡單易學 ■可執行離線結果分析，且改變缺失大小檢測參數時，不需重新掃描