日立推出新型X-ray膜厚量測儀FT160系列
廠商名稱：泰傳科技股份有限公司
發佈日期：2021-11-08
攤位號碼：L-229
新推出的奈米級X-ray膜厚量測儀FT160系列，配置了聚焦光學系統（光學管）和新型矽漂移檢測器（SDD），加強樣品的照明系統，不僅操作上更加容易，擁有優異的解析能力，多款式機型可依據鍍層應用不同及樣品大小提供選擇，在量測工作上能夠提供更多的幫助。
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